殘余應(yīng)力測定儀的基本原理
更新時(shí)間：2017-12-19 點(diǎn)擊次數(shù)：2552次
殘余應(yīng)力測定儀的基本原理：
殘余應(yīng)力測定儀的基本原理是以測量衍射線位移作為原始數(shù)據(jù)，所測得的結(jié)果實(shí)際上是殘余應(yīng)變，而殘余應(yīng)力是通過胡克定律由殘余應(yīng)變計(jì)算得到的。
其基本原理是：當(dāng)試樣中存在殘余應(yīng)力時(shí)，晶面間距將發(fā)生變化，發(fā)生布拉格衍射時(shí)，產(chǎn)生的衍射峰也將隨之移動(dòng)，而且移動(dòng)距離的大小與應(yīng)力大小相關(guān)。用波長λ的X射線，先后數(shù)次以不同的入射角照射到試樣上，測出相應(yīng)的衍射角2θ，求出2θ對sin2ψ的斜率M，便可算出應(yīng)力σψ。
Ｘ射線衍射方法主要是測試沿試樣表面某一方向上的內(nèi)應(yīng)力σφ。為此需利用彈性力學(xué)理論求出σφ的表達(dá)式。由于Ｘ射線對試樣的穿入能力有限，只能探測試樣的表層應(yīng)力，這種表層應(yīng)力分布可視為二維應(yīng)力狀態(tài)，其垂直試樣的主應(yīng)力σ3≈0(該方向的主應(yīng)變ε3≠0)。
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